
您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術文章 > L-2000DE 射頻導納物位計如何區(qū)分 “結(jié)塊層” 與 “正常粉體”? 電容式射頻導納物位計在測量易吸濕潮解粉體(如氯化鈣)時,需通過以下技術手段區(qū)分潮解結(jié)塊層與正常粉體,并可能需濕度補償模塊:
一、區(qū)分潮解結(jié)塊與正常粉體的核心邏輯
?信號特征差異?
?正常粉體?:松散粉體呈現(xiàn)低電導(G)和高容抗(B),導納信號幅值穩(wěn)定但相位偏移較小?
?潮解結(jié)塊?:吸濕后形成導電性更強的黏附層,電導(G)顯著增加,同時容抗(B)降低,導納相位偏移明顯增加
?三層電抗干擾設計?
測量感知物料,屏蔽抵消掛料信號,接地護套穩(wěn)定電場基準。潮解層因?qū)щ娦詮姡湫盘枙黄帘字鲃舆^濾,避免誤觸發(fā)?
二、濕度補償模塊的必要性及算法邏輯
?補償必要性?
當環(huán)境相對濕度(RH)超過60%時,氯化鈣等粉體易潮解,導致介電常數(shù)變化,需通過濕度補償修正測量誤差?
?核心算法邏輯?
?數(shù)據(jù)采集?:集成溫濕度傳感器(如SHT30),實時監(jiān)測環(huán)境RH值及探頭表面濕度?
?模型訓練?:采用支持向量回歸(SVR)或SCA-PSO優(yōu)化算法,建立濕度-導納偏移量映射關系,例如:
補償值 = f(RH) × (G實測 - G基準) + B修正項
其中,f(RH)為濕度權重函數(shù),隨RH升高動態(tài)調(diào)整?
?動態(tài)校準?:定期通過標準粉體測試更新基準參數(shù),避免長期漂移?